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EDX-9000S PLUS全元素分析仪

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商品说明

应用领域

EDX-9000S PLUS X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、AI、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率。另外,在矿石分析、合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。



仪器配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探测器

数字多道技术

信噪比增强器 SNE

高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头

自动切换型准直器和滤光片

自动稳谱装置

三重安全保护模式

可靠的整体钢架结构

高清显示屏

真空泵



商品参数


仪器参数

型号

EDX-9000S PLUS

测量元素范围钠(Na)-铀(U)
元素含量分析范围

ppm-99.99%

(不同材质,分析范围不同)

同时分析元素一次性可测几十种元素
分析精度0.05%(含量高于96%以上的样品,21次测试稳定性)
测量时间30-200秒
探测器能量分辨率129±5eV
管压5KV-50KV
管流50μA-1000μA
测量对象状态粉末、固体、液体
输入电压AC 110V-220V
环境温度15C-30℃
环境湿度35%-70%

样品腔尺寸

35cmX35cmX20cm

仪器尺寸

42cmX42cmX42cm

仪器重量

36kg




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